Mikroskope und Komponenten, optische Messtechnik, Rauheitsmesstechnik

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Nikon CFI TU Plan EPI ELWD 20x

Artikel-Nummer: MUE21200 Nikon CFI TU Plan EPI ELWD 20x, Gewinde M25x0,75, Arbeitsabstand 19,0mm, NA 0,4, Hellfeld

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