Mikroskope und Komponenten, optische Messtechnik, Rauheitsmesstechnik

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Nikon CFI T Plan EPI SLWD 50x

Artikel-Nummer: MUE31500 Nikon CFI T Plan EPI SLWD 50x, Gewinde M25x0,75, Arbeitsabstand 22,0mm, NA 0,4, Hellfeld

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