Nikon Waferinspektionsmikroskop LV150N (MBA61015-Wafer) Auflicht 4″, 6″ frei konfigurierbar

Nikon Wafer Inspektionsmikroskop LV150N (MBA61015_Wafer) frei konfigurierbar. Bitte senden Sie uns dazu eine kurze Anfrage mit Ihrer gewünschten Konfiguration.

Artikelnummer: MBA61015-Wafer konfigurierbar Kategorien: , Schlagwort:

Beschreibung

Die aufrechten Mikroskope von Nikon der LV-Serie bieten Ihnen eine Vielzahl von Konfigurationsmöglichkeiten, wodurch sie optimal auf Ihre Anwendung abgestimmt werden. Egal, ob Sie nur im Auflicht-Hellfeld arbeiten möchten, eine Kombination von Auf- und Durchlicht benötigen, oder einen motorischen Kreuztisch/Z-Fokus wünschen, das System kann individuell angepasst werden.

Die hochqualitativen Nikon-Objektive garantieren Ihnen dabei helle, kontrastreiche, klare und plane Bilder und das bei unglaublichen Arbeitsabständen. So beträgt z.B. der Standardarbeitsabstand eines 100x Hellfeld-Objektivs bereits 1mm, als Option sogar bis zu 10mm, somit gehört das Zusammenstoßen der Probe mit dem Objektiv der Vergangenheit an und es können vertieft liegende Stellen betrachtet werden.

 

Für messtechnische Anforderungen mit Digitalanzeige in XYZ eignet sich das Universal-Messmikroskop MM400NLU/MM800NLU:

Nikon Universal-Messmikroskop MM800NLU
Nikon Universal-Messmikroskop MM400NLU/MM800NLU

 

(z.B. zur Waferinspektion, Halbleitertechnik)
Hinweis:
Dieses ist eine allgemeine Beschreibung und die Abbildungen beispielhaft, den tatsächlichen Lieferumfang finden Sie im Angebot.

Nikon LV150N Wafer
Nikon Waferinspektionsmikroskop LV150N (MBA61015-Wafer) Auflicht 4″, 6″ frei konfigurierbar