Nikon Waferinspektionsmikroskop L200N (MBA60220) Auflicht 8″ frei konfigurierbar

Nikon Auflicht Inspektionsmikroskop L200N (MBA60220) frei konfigurierbar. Bitte senden Sie uns dazu eine kurze Anfrage mit Ihrer gewünschten Konfiguration.

Artikelnummer: MBA60220 konfigurierbar Kategorien: , Schlagwort:

Beschreibung

Nikon Waferinspektionsmikroskop L200N (MBA60220) Auflicht 8″ frei konfigurierbar

(z.B. zur Waferinspektion, Halbleitertechnik)
Hinweis:
Dieses ist eine allgemeine Beschreibung und die Abbildungen beispielhaft, den tatsächlichen Lieferumfang finden Sie im Angebot.

Nikon L200ND
Nikon Waferinspektionsmikroskop L200N (MBA60220) Auflicht 8″ frei konfigurierbar