Nikon Waferinspektionsmikroskop L200ND (MBA60320) Auf-/Durchlicht 8″ frei konfigurierbar

Nikon Auf-/Durchlicht Inspektionsmikroskop L200N (MBA60320) frei konfigurierbar. Bitte senden Sie uns dazu eine kurze Anfrage mit Ihrer gewünschten Konfiguration.

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Beschreibung

Nikon Waferinspektionsmikroskop L200ND (MBA60320) Auf-/Durchlicht 8″ frei konfigurierbar

(z.B. zur Waferinspektion, Halbleitertechnik)
Hinweis:
Dieses ist eine allgemeine Beschreibung und die Abbildungen beispielhaft, den tatsächlichen Lieferumfang finden Sie im Angebot.

Nikon L200ND
Nikon Waferinspektionsmikroskop L200ND (MBA60320) Auf-/Durchlicht 8″ frei konfigurierbar