Nikon Waferinspektionsmikroskop L300N (MBA67110) Auflicht 12″ auf Anfrage

Nikon Auflicht Inspektionsmikroskop L300N (MBA67110) frei konfigurierbar. Bitte senden Sie uns dazu eine kurze Anfrage mit Ihrer gewünschten Konfiguration.

Artikelnummer: MBA67110 konfigurierbar Kategorien: , Schlagwort:

Beschreibung

Die Nikon Halbleitermikroskope L200N(D) und L300N(D) eignen sich für eine Vielzahl an Anwendungen, entweder als reines Auflichtmikroskop L200N/L300N, oder als kombiniertes System mit Auf- und Durchlicht L200ND/L300ND.

Sie verfügen über einen motorisierten 6fach Objektivrevolver zur Aufnahme der Nikon High-End Objektivserie CFI60-2, von z.B. 1x für die große Übersicht, oder 100x für Detailansichten.

Der ergonomische Tubus kann von 0-30° verstellt werden, für die optimale Einstellung auf den jeweiligen Benutzer.

Der Kreuztisch verfügt über eine fixe Position der XY-Feinverstellung und zusätzlch über eine Grobverstellung für ein komfortables Handling.

Grundsätzlich sind die Systeme auf möglichst hohe Ergonomie und Stabilität ausgelegt. Viele Einstellungen können an der Front des Mikroskops ausgeführt werden, z.B. die Steuerung des motorischen Objektivrevolvers oder der Beleuchtung.

Die Systeme sind kombinierbar mit den Nikon Kamera- und Softwaresystemen und erlauben über die Mikroskopsoftware NIS-Elements z.B. auch die Steuerung des Objektivrevolvers. Zudem können Panoramabilder erzeugt, oder tiefenscharfe Bilder dargestellt werden.

Es stehen zwei Kreuztische zur Verfügung, entweder 8×8″ für das L200N und L200ND, oder 14×12″ für das L300N und L300ND. Der Verfahrweg beträgt für das L200N und L200ND ca. 205x205mm im Auflicht und für das L200ND ca. 150x150mm im Durchlicht. Der Verfahrweg für das L300N und L300ND beträgt ca. 354x302mm im Auflicht und für das L300ND ca. 354x268mm im Durchlicht.

 

(z.B. zur Waferinspektion, Halbleitertechnik)
Hinweis:
Dieses ist eine allgemeine Beschreibung und die Abbildungen beispielhaft, den tatsächlichen Lieferumfang finden Sie im Angebot.

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