Nikon Eclipse LV100AMS One-Klick-Mikroskop zur vollautomatisierten Inspektion mit KI-gestützter Bildanalyse

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Das ECLIPSE LV100AMS von Nikon ist ein vollautomatisiertes, KI-gestütztes Industriemikroskop, das darauf ausgelegt ist, mit einem einzigen Klick konsistente Inspektionsergebnisse zu liefern. Ideal für Anwendungsbereiche in der Qualitätskontrolle, die einen hohen Durchsatz und minimale Bedienerabweichungen erfordern. 

Inspektion mit einem Klick

Alles auf einen Klick, von komplexen Inspektionsroutinen bis hin zur anspruchsvollen Bildanalyse.

 

Automatisierte benutzerdefinierte Workflows

Entwerfen Sie Inspektionsprozesse, die genau auf Ihre spezifischen Anforderungen zugeschnitten sind. Der Workflow kann an die jeweiligen Inspektionsbedingungen und -prozesse angepasst werden.

 

Integration für eine nahtlose Analyse

Das AMS vereint motorisierte Steuerung, automatisierte Bildaufnahme und intelligente Analyse in einem nahtlosen System und liefert konsistente Ergebnisse bei minimalem Einfluss des Bedieners.

 

 

Beispielanwendungen:

Automatisierte Inspektion

Ein flexibles Framework zur Entwicklung kundenspezifischer Inspektionslösungen. Es vereint automatisierte Bilderfassung, Bildanalyse und Berichterstellung in einem einzigen konfigurierbaren Arbeitsablauf, ideal für Anwendungsbereiche ohne vordefinierte Standards, von explorativen Untersuchungen bis hin zu stabilen Produktionsprozessen.

 

Korngrößenanalyse

Die KI-gestützte Korngrößenanalyse automatisiert die Auswertung metallischer Mikrostrukturen und liefert schnelle, konsistente sowie anwenderunabhängige Ergebnisse.
In Übereinstimmung mit ASTM E112 und ISO 643 gewährleistet sie zuverlässige, normgerechte Korngrößenbestimmungen für Qualitätssicherung und Forschung.

 

Gefügeanalyse von Gusseisen

Entwickelt zur quantitativen Beurteilung der Graphitmorphologie in Gusseisen. Automatische Erkennung und Klassifizierung von Graphitpartikeln, Bestimmung der Nodularität und Sphäroidisierungsrate sowie Unterstützung bei der Mikrostrukturanalyse, wie Ferrit- und Perlitgehalt.
Unterstützte Normen: ISO 945‑4/ASTM A247

 

Technische Sauberkeit

Ein spezielles Modul zur automatisierten Inspektion von Partikeln auf Filtermembranen, das den gesamten Arbeitsablauf vom Scannen bis zur Berichterstellung abdeckt. Bietet statistische Ergebnisse und visuelle Dokumentation für Reinheitsprüfungen und die Qualitätssicherung.
Unterstützte Normen: ISO 16232/ISO 4406/VDA 19

 

 

Merkmale:

Sehen Sie jedes Detail mit Präzision

23,9-MP-Farbkamera, motorisierter XY-Tisch (100 x 100 mm), motorisierte Z-Achse, mit Hellfeld, Dunkelfeld, DIC, Polarisierung, optional mit Fluoreszenz. Bis zu 6700-fache digitale Vergrößerung auf einem 28-Zoll-UHD-Bildschirm.

 

Vereinfachen Sie die Berichterstellung für die Qualitätssicherung

Automatisch generierte Berichte mit kommentierten Bildern, Messwerten und zusammenfassenden Statistiken für Qualitätssicherungs-Workflows.

 

Spezifikationen:

Camera Resolution 23.9MP (6000 × 3984)
Illumination Episcopic / Diascopic
Observation methods (Episcopic) brightfield, darkfield, polarization, DIC / Optional: fluorescence
(Diascopic) brightfield, polarization / Optional: darkfield, DIC
Objective lenses TU Plan Fluor BD 5x TU Plan Fluor BD 10x TU Plan Fluor BD 20x TU Plan BD ELWD 50x TU Plan BD ELWD 100x
Resolution [μm] 2.24 1.12 0.75 0.42 0.37
Field of view [mm] H: 2.880 / V: 1.912 H: 1.440 / V: 0.956 H: 0.720 / V: 0.478 H: 0.288 / V: 0.191 H:0.144 / V: 0.096
Motorized Stage Range [mm] 100 × 100
Dimension [mm] WxDxH Approx. 1000 x 800 x 760
Maximum Sample Height [mm] 35
Maximum Sample Mass [kg] 2

 

 

Hinweis: Dieses ist eine allgemeine Beschreibung und die Abbildungen beispielhaft.

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