Nikon Waferinspektionsmikroskop L300ND (MBA67010) Auf-/Durchlicht 12″ frei konfigurierbar

Nikon Auf-/Durchlicht Inspektionsmikroskop L300ND (MBA67010) frei konfigurierbar. Bitte senden Sie uns dazu eine kurze Anfrage mit Ihrer gewünschten Konfiguration.

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Beschreibung

Nikon Waferinspektionsmikroskop L300ND (MBA67010) Auf-/Durchlicht 12″ frei konfigurierbar

(z.B. zur Waferinspektion, Halbleitertechnik)
Hinweis:
Dieses ist eine allgemeine Beschreibung und die Abbildungen beispielhaft, den tatsächlichen Lieferumfang finden Sie im Angebot.

Nikon L300ND
Nikon Waferinspektionsmikroskop L300ND (MBA67010) Auf-/Durchlicht 12″ frei konfigurierbar